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Probe pinpoints heat for IC testing

The Model 104A-1 Thermo-Probe probe tests components by applying pinpoint heat accurate to within ±1°C. Used to test devices such as diodes, resistors, and transistors, the probe takes seconds to heat ...
日本経済新聞

オムロン、IC検査用コンタクト・プローブ・ピン事業に参入

オムロンは、コンタクト・プローブ・ピン事業に参入する。このほど、独自の電鋳（でんちゅう）技術を適用したコンタクト・プローブ・ピンの量産を開始した。ICや液晶ディスプレイの検査用途を想定している。 電鋳とは、電気めっきと同じ原理で母型 ...
マイナビニュース

ヨコオ、アナログIC検査向け狭ピッチケルビン検査用プローブを発表

ヨコオは、アナログICのWLCSP検査市場向けに高精度な電圧測定が可能な狭ピッチ・ケルビン検査用プローブを発表した。 スマートフォンを中心としたモバイル端末の小型・薄型化の急速な進展に伴い、機器に実装される電源IC、スイッチICなどのアナログICも ...
Digi Times

Hermes Testing expands probe solution business amid AI-driven semiconductor demand

Hermes Testing, a testing solutions provider under Hermes Epitek, is leveraging its machine engineering services and customized equipment manufacturing to address growing demand in advanced ...
Digi Times

Tanaka develops rhodium probe pin material for semiconductor testing

Tanaka Precious Metal Technologies has developed TK-SR, a rhodium-based material for probe pins used in probe cards during semiconductor front-end testing. Save my User ID and Password Some ...